Análisis de estrés eléctrico en inversores fabricados con transistores de película delgada TFTs

Vargas Ortiz, Fernando

Análisis de estrés eléctrico en inversores fabricados con transistores de película delgada TFTs

Vargas Ortiz, Fernando

URI: http://hdl.handle.net/20.500.11799/109550

Fecha: 2020-06-27

Resumen:

En el presente trabajo se analiza el comportamiento del estrés eléctrico en Inversores de carga resistiva fabricados a partir de Transistores de Película delgada.

Descripción:

El presente es un trabajo de tesis de licenciatura en Ingeniería en computación

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Título
Análisis de estrés eléctrico en inversores fabricados con transistores de película delgada TFTs
Autor
Vargas Ortiz, Fernando
Director(es) de tesis, compilador(es) o coordinador(es)
García Lozano, Rodolfo Zola
Fecha de publicación
2020-06-27
Editor
Universidad Autónoma del Estado de México
Tipo de documento
Tesis de Licenciatura
Palabras clave
Transistor
Inversor de carga resistiva
película delgada

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