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dc.contributor Rosendo Francisco, Porfirio Domingo
dc.contributor.author Hernández Colín, Salvador
dc.date.accessioned 2018-02-03T01:02:50Z
dc.date.available 2018-02-03T01:02:50Z
dc.date.issued 2017-07-24
dc.identifier.uri http://hdl.handle.net/20.500.11799/68404
dc.description La microscopia de efecto túnel es una técnica de gran ayuda que ah permitido el estudio de la estructura en los arreglos cristalinos formados por elementos, los cuales al unirse por un enlace iónico crean un semiconductor definido por determinada estructura cristalina. Según el tipo de enlace por el cual se unan ciertos elementos, pueden ser moléculas sí se trata de un enlace covalente o un arreglo cristalino periódico o aperiódico sí es un enlace iónico. La micrografía de Seleniuro de Cadmio se obtuvo bajo ciertos parámetros establecidos en el arranque del funcionamiento del Microscopio de Tunelamiento y bajo ciertas restricciones como las condiciones en el medio donde se trabajó. Por ejemplo la muestra debería estra lo más lisa posible para que la punta conductora del STM realizara el efecto de tunelamiento correcto. Se detectó que en la muestra de Seleniuro de Cadmio existen dos tipos de estructuras: una del tipo hexagonal que representa el ordenamiento de los retículos y otra cubica la cual es el generado por los intersticios en el arreglo del material. es
dc.description.abstract A través de los últimos años, la ciencia de nuevos materiales ha encontrado diversos aspectos físico-químicos que permiten obtener y determinar las propiedades de ciertos materiales tanto en bulto como en su tipo de red cristalina; es decir, esto se debe a dos posibilidades: que se presentan como una propiedad intrínseca, o que se le inducen al material. Estas características han mantenido y generado un interés científico para el avance y la innovación de dispositivos electrónicos, optoelectrónicos y microelectrónicos. Gracias al uso de diferentes técnicas experimentales (RX, microscopía de fuerza atómica y/o de tunelamiento, optoelectrónicas, entre otras) aplicadas a estos materiales; se ha podido observar, estudiar y caracterizar sus diferentes propiedades físicas para determinar si se trata de un conductor, semiconductor o aislante; e incluso comprender sus características magnéticas, ópticas, mecánicas, por mencionar solo algunas. es
dc.language.iso spa es
dc.publisher Universidad Autónoma del Estado de México es
dc.rights openAccess es
dc.rights https://creativecommons.org/licenses/by-sa/4.0/ es
dc.rights openAccess es
dc.rights https://creativecommons.org/licenses/by-sa/4.0/ es
dc.subject Análisis y caracterización del CdSe es
dc.subject Nanoestructurado es
dc.subject Microscopía de Tunelamiento es
dc.subject Estructuras y redes cristalinas es
dc.subject Estructura del CdSe es
dc.subject Seleniuro es
dc.title Análisis y Carecterización del CdSe Nanoestructurado por Microscopia de Tunelamiento es
dc.type Tesis de Licenciatura es
dc.provenance Académica es
dc.road Dorada es
dc.organismo Ciencias es
dc.ambito Internacional es
dc.cve.CenCos 21901 es
dc.cve.progEstudios 30 es
dc.modalidad Tesis es


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  • Título
  • Análisis y Carecterización del CdSe Nanoestructurado por Microscopia de Tunelamiento
  • Autor
  • Hernández Colín, Salvador
  • Director(es) de tesis, compilador(es) o coordinador(es)
  • Rosendo Francisco, Porfirio Domingo
  • Fecha de publicación
  • 2017-07-24
  • Editor
  • Universidad Autónoma del Estado de México
  • Tipo de documento
  • Tesis de Licenciatura
  • Palabras clave
  • Análisis y caracterización del CdSe
  • Nanoestructurado
  • Microscopía de Tunelamiento
  • Estructuras y redes cristalinas
  • Estructura del CdSe
  • Seleniuro
  • Los documentos depositados en el Repositorio Institucional de la Universidad Autónoma del Estado de México se encuentran a disposición en Acceso Abierto bajo la licencia Creative Commons: Atribución-NoComercial-SinDerivar 4.0 Internacional (CC BY-NC-ND 4.0)

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