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| Extracción de parámetros en curvas I-V de dispositivos tipo MOSFET utilizando métodos de aprendizaje supervisado | 319 |
Visitas al mes
| febrero 2026 | marzo 2026 | abril 2026 | mayo 2026 | junio 2026 | julio 2026 | agosto 2026 | |
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| Extracción de parámetros en curvas I-V de dispositivos tipo MOSFET utilizando métodos de aprendizaje supervisado | 4 | 10 | 14 | 41 | 5 | 16 | 15 |
Visitas al fichero
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|---|---|
| Tesis doctorado Roberto Valdes.pdf | 299 |
| Carta de autorizacion RI2019 Roberto Valdés.pdf | 3 |
Países con más visualizaciones
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| Estados Unidos | 82 |
| México | 27 |
| Canadá | 21 |
| Australia | 10 |
| Japón | 10 |
| Brasil | 9 |
| Paquistán | 8 |
| Rusia | 8 |
| Reino Unido | 7 |
| Rumania | 7 |
Ciudades con más visualizaciones
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| Ottawa | 15 |
| Secaucus | 13 |
| Tustin | 13 |
| Gulberg | 8 |
| Houston | 7 |
| Mexico | 7 |
| Campina | 6 |
| Toronto | 6 |
| Bogotá | 4 |
| Dearborn | 4 |
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